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第三方元器件推拉力測(cè)試機(jī)構(gòu)

文章來(lái)源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間:2024-04-19 瀏覽數(shù)量:

在現(xiàn)代電子產(chǎn)品的制造和應(yīng)用中,元器件的可靠性是至關(guān)重要的。元器件失效可能導(dǎo)致產(chǎn)品性能下降甚至完全失效,給用戶(hù)帶來(lái)不便和損失,同時(shí)也對(duì)制造商的聲譽(yù)和成本造成影響。為了確保元器件的質(zhì)量和可靠性,各種測(cè)試方法被廣泛應(yīng)用,其中之一就是推拉力測(cè)試。


第三方元器件推拉力測(cè)試機(jī)構(gòu).jpg


為什么要做元器件推拉力測(cè)試?

電子元件在焊接、運(yùn)輸和使用過(guò)程中經(jīng)常會(huì)受到振動(dòng)、沖擊和彎曲等外力影響,導(dǎo)致焊點(diǎn)或器件產(chǎn)生機(jī)械應(yīng)力,最終可能導(dǎo)致焊點(diǎn)或器件失效。推拉力測(cè)試可用于模擬焊點(diǎn)的機(jī)械失效模型,幫助分析失效原因并評(píng)估元件的可靠性。


元器件推拉力測(cè)試依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

各種元器件推拉力測(cè)試都依據(jù)相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行,以確保測(cè)試過(guò)程的準(zhǔn)確性和可比性。這些標(biāo)準(zhǔn)包括:

- 冷/熱焊凸塊拉力 - JEITA EIAJ ET-7407

- BGA凸點(diǎn)剪切 - JEDEC JESD22-B117A

- 冷焊凸塊拉力 - JEDEC JESD22-B115

- 金球剪切 - JEDEC JESD22-B116

- 引線(xiàn)拉力 - DT/NDT MIL STD 883

- 芯片剪切 - MIL STD 883


元器件推拉力測(cè)試流程

1. 準(zhǔn)備工作: 獲取所需的 PCB 板和被測(cè)樣品,準(zhǔn)備好AB膠或502膠以固定被測(cè)樣品到PCB板上。

2. 準(zhǔn)備被測(cè)樣品: 檢查被測(cè)樣品,確保其表面平整且無(wú)損傷,并將其固定到PCB板上,使其推力方向與表面平行。

3. 進(jìn)行推力測(cè)試: 將固定好的樣品放置在推拉力測(cè)試機(jī)上,設(shè)置測(cè)試設(shè)備的推力方向與被測(cè)樣品表面平行,并根據(jù)指定的測(cè)試速度進(jìn)行推力測(cè)試。

4. 觀(guān)察和記錄: 在測(cè)試過(guò)程中,觀(guān)察樣品表面和焊點(diǎn)的情況,并記錄測(cè)試過(guò)程中的推力數(shù)值和推力曲線(xiàn)。

5. 結(jié)果評(píng)估: 結(jié)合推力數(shù)值和觀(guān)察結(jié)果,評(píng)估焊點(diǎn)的可靠性和牢固程度,并分析可能的機(jī)械失效模式和影響因素。


第三方元器件推拉力測(cè)試機(jī)構(gòu)


優(yōu)科檢測(cè)的第三方元器件推拉力測(cè)試服務(wù)

優(yōu)科檢測(cè)是專(zhuān)業(yè)的第三方電子元器件檢測(cè)機(jī)構(gòu),擁有多功能元器件推拉力測(cè)試機(jī),能夠?yàn)榭蛻?hù)提供可靠的第三方元器件推拉力測(cè)試服務(wù)。我們致力于通過(guò)嚴(yán)格的測(cè)試流程和專(zhuān)業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì),幫助客戶(hù)評(píng)估元器件的可靠性和穩(wěn)定性,確保其產(chǎn)品質(zhì)量和用戶(hù)滿(mǎn)意度。


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