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文章來(lái)源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間:2019-08-08 瀏覽數(shù)量:
廣東優(yōu)科檢測(cè)是已獲得CNAS和CMA資質(zhì)認(rèn)可的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu),實(shí)驗(yàn)室具備AEC-Q200檢測(cè)資質(zhì)和檢測(cè)能力,可提供汽車(chē)電子元器件AEC-Q200認(rèn)證、測(cè)試及技術(shù)咨詢(xún)服務(wù)。接下來(lái)為大家介紹汽車(chē)電子元器件AEC-Q200認(rèn)證的樣品要求。
汽車(chē)電子元器件AEC-Q200認(rèn)證樣品要求
1. 批次要求:批次要求在表格1中有說(shuō)明;
2. 生產(chǎn)要求:所有AEC-Q200認(rèn)證器件都應(yīng)在制造場(chǎng)所加工處理,有助于量產(chǎn)時(shí)零件的傳輸;
3. 測(cè)試樣品的再利用:已經(jīng)用來(lái)做AEC-Q200非破壞性認(rèn)證測(cè)試的器件可以用來(lái)做其他認(rèn)證測(cè)試,而做過(guò)AEC-Q200破壞性認(rèn)證測(cè)試的器件則除了工程分析外不能再使用;
4. 樣品數(shù)量要求:用于AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試的樣品數(shù)量與(或)提交的通用數(shù)據(jù)必須與表1中指定的小樣品數(shù)量和接受標(biāo)準(zhǔn)相一致。如果通用數(shù)據(jù)不能滿(mǎn)足這些要求,就要進(jìn)行器件特殊認(rèn)證測(cè)試。當(dāng)對(duì)大量的器件進(jìn)行應(yīng)力測(cè)試時(shí),禁止在可靠性測(cè)試中對(duì)產(chǎn)品使用夾具;
5. 預(yù)前應(yīng)力測(cè)試和應(yīng)力測(cè)試后要求:除非適用的測(cè)試的附加要求章節(jié)中有指定,預(yù)前應(yīng)力測(cè)試和應(yīng)力測(cè)試后只在標(biāo)稱(chēng)溫度(室溫)下進(jìn)行。在更高等級(jí)環(huán)境應(yīng)用的認(rèn)證,溫度特殊值必須設(shè)有差情況和應(yīng)用的設(shè)計(jì)產(chǎn)品壽命,即每個(gè)測(cè)試中用至少一個(gè)批次的通用數(shù)據(jù)和器件特殊數(shù)據(jù)來(lái)設(shè)置溫度等級(jí)極端。例如,如果某供應(yīng)商設(shè)計(jì)一種器件,有意設(shè)置在工作溫度等級(jí)3環(huán)境(-40℃到+80℃),那么終端測(cè)試溫度極端僅需將其作為限定,供適用的應(yīng)力測(cè)試要求指定工作溫度極端下的電氣測(cè)試。針對(duì)更高工作溫度等級(jí)環(huán)境(等級(jí)1的-40℃到+125℃)應(yīng)用中的認(rèn)證,要測(cè)試至少一個(gè)批次能用到附加終端測(cè)試溫度極端的器件。所有的終端測(cè)試條件必須包括了給定產(chǎn)品系列的所有規(guī)格。
6. 應(yīng)力測(cè)試失效后的定義:測(cè)試失效定義為器件不符合用戶(hù)個(gè)別的器件規(guī)格,應(yīng)力測(cè)試后的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范,或是供應(yīng)商的數(shù)據(jù)表。任何由于環(huán)境測(cè)試導(dǎo)致的外部物理破壞的器件也要被認(rèn)為是失效的器件。如果失效的原因被廠商和用戶(hù)認(rèn)為是非正確運(yùn)轉(zhuǎn)、靜電放電或一些其他與測(cè)試條件不相關(guān)的原因,失效就算不上,但作為數(shù)據(jù)提交的一部份上報(bào)。供應(yīng)商必須描述每個(gè)應(yīng)力測(cè)試的參數(shù)失效標(biāo)準(zhǔn)作為向用戶(hù)提交認(rèn)證數(shù)據(jù)的一部分以批準(zhǔn)。每種器件類(lèi)型建議的參數(shù)清單應(yīng)包含在每種器件類(lèi)型測(cè)試表格的后面。
表1:AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試樣品數(shù)量要求
應(yīng)力方式 | NO | 注釋 | 樣品數(shù)/批 | 批次 | 接受標(biāo)準(zhǔn) |
Pre-and Post-Stress Electrical Test 應(yīng)力測(cè)試前后電氣測(cè)試 | 1 | G | 所有進(jìn)行認(rèn)證的產(chǎn)品都應(yīng)送去測(cè)試 | 0 | |
High Temperature Exposure 高溫存儲(chǔ) | 3 | DG | 77 Note B | 1 | 0 |
Temperature Cycling 溫度循環(huán) | 4 | DG | 77 Note B | 1 | 0 |
Destructive Physical Analysis 破壞性物理分析 | 5 | DG | 77 Note B | 1 | 0 |
Moisture Resistance 濕度抵抗 | 6 | DG | 77 Note B | 1 | 0 |
Humidity Bias 偏高濕度 | 7 | DG | 77 Note B | 1 | 0 |
High Temperature Operating Life 高溫工作壽命 | 8 | DG | 77 Note B | 1 | 0 |
External Visual 外觀 | 9 | NG | 所有提交認(rèn)證的產(chǎn)品 | 0 | |
Physical Dimensions 尺寸 | 10 | NG | 30 | 1 | 0 |
Terminal Strength(Leaded) 端子強(qiáng)度(引腳) | 11 | DGL | 30 | 1 | 0 |
Resistance to Solvent 溶劑抵抗 | 12 | DG | 5 | 1 | 0 |
Mechanical Shock 機(jī)械沖擊 | 13 | DG | 30 Note B | 1 | 0 |
Vibration 振動(dòng) | 14 | DG | 30 Note B | 1 | 0 |
Resistance to Solder Heat 抗焊接熱 | 15 | DG | 30 | 1 | 0 |
Thermal Shock 熱沖擊 | 16 | DG | 30 | 1 | 0 |
ESD 靜電放電 | 17 | D | 15 | 1 | 0 |
Solderability 可焊性 | 18 | D | 15 每種條件 | 1 | 0 |
Electrical Characterization 電氣特性 | 19 | NG | 30 Note A | 1 | 0 |
Flammability 可燃性 | 20 | D | |||
Present certificate of compliance提供合格證明書(shū) | |||||
Board Flex 板彎曲 | 21 | DS | 30 | 1 | 0 |
Terminal Strength (SMD) 端子強(qiáng)度(表面貼裝元件) | 22 | DS | 30 | 1 | 0 |
Beam Load 射束負(fù)載(斷裂強(qiáng)度) | 23 | DG | 30 | 1 | 0 |
Flame Retardance 阻燃測(cè)試 | 24 | DG | 30 | 1 | 0 |
Rotation Life 旋轉(zhuǎn)壽命 | 25 | DG | 30 | 1 | 0 |
Surge Voltage 沖擊電壓 | 27 | DG | 30 | 1 | 0 |
Salt Spray 鹽霧試驗(yàn) | 29 | DG | 30 | 1 | 0 |
Electrical Transient Conduction 瞬時(shí)電傳導(dǎo) | 30 | DG | 30 | 1 | 0 |
Shear Strength 剪切強(qiáng)度 | 31 | DG | 30 | 1 | 0 |
Short Circuit Fault Current Durability 短路失效電流耐久性 | 32 | DG | 30 | 1 | 0 |
Fault Current Durability 失效電流耐久性 | 33 | DG | 30 | 1 | 0 |
End-of-Life Mode Verification 壽命終止模式驗(yàn)證 | 34 | DG | 30 | 1 | 0 |
Jump Start Endurance 助推啟動(dòng)持久性 | 35 | DG | 30 | 1 | 0 |
Load Dump Endurance 突卸負(fù)載持久性 | 36 | DG | 30 | 1 | 0 |
表1說(shuō)明
Note A:對(duì)于參數(shù)驗(yàn)證數(shù)據(jù),某些情形不可避免地用戶(hù)只接受一批。隨后的用戶(hù)應(yīng)決定使用先前用戶(hù)的認(rèn)證承認(rèn),后續(xù)用戶(hù)有責(zé)任驗(yàn)證使用的可接受批次數(shù)量。
B:用通用的(家族)數(shù)據(jù)代替器件具體數(shù)據(jù)的,要求3批。
L:只用于直插引腳
N:非破壞性測(cè)試,器件可用于組裝到板子上進(jìn)行其它測(cè)試或者可用于生產(chǎn)
D:破壞性測(cè)試,器件不可重新用于認(rèn)證測(cè)試或生產(chǎn);
S:只要求用于表面貼裝元件;
G:允許通用數(shù)據(jù)
以上就是關(guān)于汽車(chē)電子元器件AEC-Q200認(rèn)證樣品要求的介紹,如果您有汽車(chē)級(jí)電容、電阻、電感、保險(xiǎn)絲、變壓器、IC等元器件產(chǎn)品需要做AEC-Q200認(rèn)證、測(cè)試,歡迎聯(lián)系廣東優(yōu)科檢測(cè)工程師。
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