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文章來(lái)源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間：2025-03-31 瀏覽數(shù)量：
元器件二次篩選（簡(jiǎn)稱"二篩"）是指對(duì)已通過(guò)出廠檢測(cè)的電子元器件進(jìn)行補(bǔ)充性可靠性驗(yàn)證的工藝過(guò)程。作為專業(yè)的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，我們針對(duì)航空航天、軍工裝備、軌道交通等高可靠性領(lǐng)域需求，依據(jù)國(guó)際/國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)元器件進(jìn)行系統(tǒng)性再篩選，消除早期失效隱患，確保器件在極端環(huán)境下的穩(wěn)定表現(xiàn)。
1. 外觀及物理特性檢查
- X射線內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析
- 引腳共面性檢測(cè)
- 封裝密封性測(cè)試
- 標(biāo)記耐久性驗(yàn)證
2. 電性能測(cè)試
- 全參數(shù)功能測(cè)試
- 極限電壓/電流試驗(yàn)
- 開關(guān)特性驗(yàn)證
- 三溫測(cè)試（-55℃/25℃/125℃）
3. 環(huán)境應(yīng)力篩選
- 高溫老化試驗(yàn)（168小時(shí)@125℃）
- 溫度循環(huán)試驗(yàn)（-65℃~150℃）
- 機(jī)械沖擊（1500G/0.5ms）
- 恒定加速度試驗(yàn)
4. 破壞性物理分析(DPA)
- 開封內(nèi)部檢查
- 鍵合強(qiáng)度測(cè)試
- 芯片剪切試驗(yàn)
- 材料成分分析
| 標(biāo)準(zhǔn)類型 | 典型標(biāo)準(zhǔn) | 適用范圍 |
| 國(guó)軍標(biāo) | GJB 7243/GJB548B/GJB128A | 軍用元器件可靠性保證 |
| 美軍標(biāo) | MIL-STD-883/MIL-STD-750D | 航天及高可靠領(lǐng)域 |
| 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn) | ESCC-QEC-204000 | 歐洲航天元器件認(rèn)證 |
| 行業(yè)規(guī)范 | NASA篩選標(biāo)準(zhǔn) | 航空航天特殊環(huán)境應(yīng)用 |
1. 航天級(jí)集成電路；
2. 軍用功率半導(dǎo)體器件；
3. 植入式醫(yī)療電子模塊；
4. 車規(guī)級(jí)IGBT模塊；
5. 深海作業(yè)傳感器組件；
6. 衛(wèi)星通信射頻器件。
1. 委托申請(qǐng)：提交器件型號(hào)、數(shù)量及篩選等級(jí)；
2. 方案制定：根據(jù)GJB/客戶標(biāo)準(zhǔn)制定篩選流程；
3. 樣品接收：專業(yè)防靜電包裝運(yùn)輸；
4. 分級(jí)檢測(cè)：執(zhí)行非破壞→破壞性檢測(cè)序列；
5. 數(shù)據(jù)審核：雙重復(fù)核檢測(cè)數(shù)據(jù)；
6. 報(bào)告簽發(fā)：提供CNAS檢測(cè)報(bào)告；
7. 異常處理：出具失效分析報(bào)告（FA）。
優(yōu)科檢測(cè)擁有CNAS、DILAC等實(shí)驗(yàn)室資質(zhì)，配備全套專業(yè)檢測(cè)設(shè)備，可為客戶提供符合GJB、MIL、AEC-Q等標(biāo)準(zhǔn)的定制化元器件二篩服務(wù)。通過(guò)科學(xué)的檢測(cè)流程管理，我們確保每個(gè)環(huán)節(jié)數(shù)據(jù)可追溯，平均縮短30%檢測(cè)周期，助力企業(yè)提升元器件批次合格率。
獲取報(bào)價(jià)
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