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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間:2024-12-16 瀏覽數(shù)量:
元器件篩選是電子制造和產(chǎn)品開發(fā)中不可忽視的重要環(huán)節(jié)。優(yōu)科檢測作為專業(yè)的第三方電子元器件篩選檢測機構,具備先進的實驗室設備和全面的技術能力,提供包括電子元件、半導體分立器件、集成電路和模塊在內(nèi)的元器件篩選服務。
元器件篩選是通過施加規(guī)定的環(huán)境和電氣應力,剔除早期失效元器件的過程,分為一次篩選和二次篩選:
- 一次篩選:由元器件生產(chǎn)廠家根據(jù)規(guī)范或合同要求完成。
- 二次篩選:針對采購的元器件進一步篩選,剔除因制造缺陷導致的早期失效產(chǎn)品,顯著提高整批器件的可靠性。
1. 剔除早期失效產(chǎn)品:排除潛在的缺陷,防止不良元器件進入生產(chǎn)環(huán)節(jié)。
2. 提升產(chǎn)品批次可靠性:確保系統(tǒng)的整體性能和壽命。
3. 驗證質(zhì)量一致性:降低因批次間差異導致的產(chǎn)品故障風險。
- 電子元件:如電阻、電容、電感、繼電器、電連接器等。
- 半導體分立器件:如三極管、MOS管、IGBT等。
- 半導體集成電路:如CPU、FPGA、存儲器、模擬電路、DC/DC等。
- 模塊類:包括電源模塊、通訊模塊、控制模塊等功能性電路。
元器件篩選嚴格依據(jù)國際和軍用標準執(zhí)行,如:
- GJB7243《軍用電子元器件篩選技術要求》
- GJB548B《微電子器件試驗方法和程序》
- MIL-STD-750D《半導體分立器件試驗方法》
- QJ10003《進口元器件篩選指南》等。
1. 外觀檢查:使用光學顯微鏡等設備檢測表面質(zhì)量、尺寸和標識。
2. 密封性能測試:采用氨質(zhì)譜檢漏儀進行密封性驗證。
3. 電性能測試:
- 阻抗分析、耐壓測試、參數(shù)檢測等。
- 使用高精度圖示儀、網(wǎng)絡分析儀等專業(yè)設備。
4. 環(huán)境與應力試驗:
- 高低溫循環(huán)、振動、恒定加速度等。
- 設備包括高低溫試驗箱、振動臺等。
5. 老化測試:
- 動態(tài)高溫老煉和壽命測試。
- 應用集成電路高溫動態(tài)老煉系統(tǒng)等。
6. X射線與聲學顯微檢測:檢測內(nèi)部結構完整性和潛在缺陷。
1. 收樣:樣品接收、標識并錄入系統(tǒng)。
2. 外觀檢測:檢查尺寸、外觀和標識清晰度。
3. 初步測試:常溫下的基本電性能測試。
4. 應力試驗:如PIND、老煉、機械性能試驗。
5. 中間測試:在應力篩選后進行電性能驗證。
6. 終測與報告:最終電性能確認、標記并生成報告。
1. 樣品提交:客戶提交待篩選的樣品及相關技術文件。
2. 檢測合同確認:雙方確認篩選要求、試驗項目和時間。
3. 檢測實施:實驗室根據(jù)標準和客戶需求完成篩選試驗。
4. 報告生成與交付:篩選完成后,優(yōu)科檢測提供詳細的篩選報告,包括測試數(shù)據(jù)、篩選結果和建議。
1. 專家團隊
可靠性檢測專家、定制化服務、專業(yè)人員技術培訓服務,擁有多名航空、航天電子元器件質(zhì)量可靠性專組成的專家團隊50余人。
2. 專業(yè)設備
配備各種規(guī)格的集成電路測試系統(tǒng),老煉箱50余臺、各類環(huán)境箱體20臺套、機械性能與可靠性檢測設備30臺套、半導體分立器件測試系統(tǒng)、模擬器件測試系統(tǒng)、檢漏系統(tǒng)、PIND顆粒碰撞檢測設備等。
3. 一站式方案服務
依據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格,準確制定元器件的篩選方案和規(guī)程\依據(jù)篩選結果,準確定位元器件失效機理,并依據(jù)客戶需求給出元器件失效分析方案。
4. 權威保障
GJB體系控制+實驗室認可檢測設備,保證測試流程和測試精度,第三方公正檢測機構。
通過優(yōu)科檢測的元器件篩選服務,您可以有效保障產(chǎn)品質(zhì)量,提升市場競爭力。立即聯(lián)系我們,開啟可靠性篩選之旅!
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