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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間：2023-07-25 瀏覽數(shù)量：
AECQ101和102是車用分立半導體元器件AEC-Q車規(guī)認證標準，優(yōu)科檢測是專業(yè)第三方AEC-Q車規(guī)級電子元器件認證機構(gòu)，實驗室具備AEC-Q101和AEC-Q102標準CNAS全項測試資質(zhì)和CNCA發(fā)證能力，接下來為大家介紹AECQ101和102的區(qū)別。
AECQ101和102的適用對象、樣本量、失效依據(jù)、高溫工作試驗條件、溫度循環(huán)試驗條件、高溫高濕試驗條件、功率溫度循環(huán)試驗條件、DPA抽樣方式、熱阻試驗方法均存在區(qū)別，接下來為大家介紹主要區(qū)別。
1. 適用對象區(qū)別
AEC-Q101適用對象：車用分立半導體元器件
晶體管：BJT、MOSFET、IGBT；
二極管：Diodes、Rectifier、Zeners、PIN、Varactors。
AEC-Q102適用對象：車用分立光電半導體元器件
光器件：Light Emitting Diodes、Optocoupler、Laser Components、Photodiodes、Phototransistors。
2. 所需樣品數(shù)量區(qū)別
AEC-Q101所需樣品數(shù)量：
環(huán)境應力試驗：3lot×77pcs/lot
LTPD(Lot Tolerance Percent Defective) = 1, 90%置信度的失效率為1%
AEC-Q102所需樣品數(shù)量：
環(huán)境應力試驗：3lot×26pcs/lot
LTPD (Lot Tolerance Percent Defective) = 3, 90%置信度的失效率為3%
3. 失效判據(jù)區(qū)別
AEC-Q101失效判據(jù)：
- 不符合規(guī)格書規(guī)定的電學和光學參數(shù)范圍；
- 環(huán)境試驗前后參數(shù)值變化未保持在±20%以內(nèi)；
- 漏電未保持在5倍初始值以內(nèi)（對于濕氣試驗為10倍）；
- 由于環(huán)境試驗出現(xiàn)物理損壞；
- 如果失效原因被供應商和用戶認為是由于處理不當或ESD的原因引起，這些失效可以被忽略，但應呈現(xiàn)在報告中。
AEC-Q101失效判據(jù)：
- 不符合規(guī)格書規(guī)定的電學和光學參數(shù)范圍；
- 環(huán)境試驗前后參數(shù)值變化未保持在附錄5規(guī)定的±x%以內(nèi)；
- 由于環(huán)境試驗出現(xiàn)物理損壞（遷移、腐蝕、機械破壞、分層等）；
- 有些物理損壞可能由供應商和用戶同意認為僅僅是外觀不良而不影響認證結(jié)果；
- 如果失效原因被供應商和用戶認為是由于處理不當、測試板連接、ESD或其它跟測試條件無關(guān)的原因引起，這些失效可以被忽略，但應呈現(xiàn)在報告中。
優(yōu)科檢測是專業(yè)第三方AEC-Q認證機構(gòu)，實驗室具備AEC-Q100/101/102/103/104/200標準檢測資質(zhì)和CNCA發(fā)證能力，可提供車規(guī)級集成電路、分立半導體器件、光電半導體器件、傳感器、被動元件等汽車電子元件AEC-Q檢測認證服務。我們可依據(jù)產(chǎn)品使用條件和質(zhì)量指標，定義符合汽車電子質(zhì)量要求的測試計劃，助力客戶快速進入汽車電子市場。
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