文章來(lái)源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間：2023-04-04 瀏覽數(shù)量：
優(yōu)科檢測(cè)是專業(yè)第三方LED光源AEC-Q102認(rèn)證機(jī)構(gòu)，優(yōu)科實(shí)驗(yàn)室致力于為L(zhǎng)ED上中下游產(chǎn)品提供創(chuàng)新的品質(zhì)解決方案，并通過(guò)AEC-Q102規(guī)范協(xié)助LED廠商找出設(shè)計(jì)不良導(dǎo)致失效的原因。我們提供專業(yè)的磊晶、元件、模塊以及LED燈具完整的分析服務(wù)，幫助LED廠商快速找到失效問(wèn)題點(diǎn)并提供解決方案。
LED光源在汽車的應(yīng)用越來(lái)越廣，車燈照明、智能系統(tǒng)、盲點(diǎn)偵測(cè)等應(yīng)用都需要高品質(zhì)的LED，也因此眾多 LED 元組件供貨商積極布局車用 LED 領(lǐng)域。圍繞車燈及其附件的可靠性試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)紛繁復(fù)雜，各主機(jī)廠的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)均有不同描述，產(chǎn)品通用性較差。
AEC-Q102是汽車應(yīng)用分立光電半導(dǎo)體元器件的應(yīng)力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。AEC（汽車電子委員會(huì)）于2017年3月正式發(fā)表 AEC-Q102 REV 標(biāo)準(zhǔn)，此規(guī)范主要為離散光電組件產(chǎn)品進(jìn)入車用市場(chǎng)制定的判斷標(biāo)準(zhǔn)，同時(shí)也是目前最新針對(duì)車用LED通用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。其驗(yàn)證包含實(shí)驗(yàn)樣品數(shù)量的重新定義、LEDTj (Junction Temperature)控制的方式、氣體腐蝕的增加等，每項(xiàng)都是針車用 LED 所可能遭遇的環(huán)境來(lái)設(shè)計(jì)，以保護(hù)行車時(shí)的安全性。對(duì)光電器件的可靠性展開(kāi)了嚴(yán)格的測(cè)試要求，大大提升了光電器件的使用性能。
LED燈珠、光電二極管、光電晶體管、激光元件。
| 序號(hào) | 測(cè)試項(xiàng)目 | 縮寫(xiě) | 檢測(cè)方法 |
| A 加速環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn) | |||
| A1 | 預(yù)處理 | PC | JEDEC JESD22-A113 |
| A2a | 高溫濕工作壽命1 | WHTOL1 | JEDEC JESD22-A101 |
| A2b | 高溫濕工作壽命2 | WHTOL2 | JEDEC JESD22-A101 |
| A2c | 高濕度高溫反向偏壓 | H3TRB | JEDEC JESD22-A101 |
| A3a | 功率溫度循環(huán) | PTC | JEDEC JESD22-A105 |
| A3b | 間歇使用壽命 | IOL | MIL-STD-750-1 Method 1037 |
| A4 | 溫度循環(huán) | TC | JEDEC JESD22-A104 |
| B 組 加速壽命應(yīng)力試驗(yàn) | |||
| B1a | 高溫濕工作壽命1 | HTOL1 | JEDEC JESD22-A108 |
| B1b | 高溫濕工作壽命2 | HTOL2 | JEDEC JESD22-A108 |
| B1c | 高溫反向偏壓 | HTRB | JEDEC JESD22-A108 |
| B2 | 低溫使用壽命 | LTOL | JEDEC JESD22-A108 |
| B3 | 脈沖壽命 | PLT | JEDEC JESD22-A108 |
| C 組 封裝組合完整性測(cè)試 | |||
| C1 | 破壞性物理分析 | DPA | Appendix 6 |
| C2 | 物理尺寸 | PD | JEDEC JESD22-B100 |
| C3 | 綁線強(qiáng)度 | WBP | MIL-STD-750-2Method 2037 |
| C4 | 綁線剪切 | WBS | JESD22-B116 |
| C5 | 芯片剪切 | DS | MIL-STD-750-2Method 2017 |
| C6 | 端子強(qiáng)度 | TS | MIL-STD-750-2Method 2036 |
| C7 | 凝露 | DEW | AEC-Q102-001 |
| C8 | 耐焊接熱 | RSG（-wave） | Lead containing devices per JESD22-B106Lead(Pb)-free devices per AEC-Q005 |
| C9 | 熱阻 | TR | JEDEC JESD51-50 JESD51-51 JESD51-52 |
| C10 | 可焊性 | SD | JEDEC J-STD-002 or IEC 60068-2-58(SMD)IEC 60068-2-20(Through hole) |
| C11 | 晶須生長(zhǎng) | WG | AEC-Q005 |
| C12 | 硫化氫 | H2S | IEC 60068-2-43 |
| C13 | 混合氣流測(cè)試 | FMG | IEC 60068-2-60 Test method 4 |
| C14 | 板彎曲 | BF | AEC-Q102-002 |
| E 組 光電驗(yàn)證試驗(yàn) | |||
| E0 | 目檢 | EV | JEDEC JESD22-B101 |
| E1 | 應(yīng)力前后電氣和光度試驗(yàn) | TEST | Section 2.3.7& User specification or supplier's standard specification |
| E2 | 參數(shù)驗(yàn)證 | PV | individual AEC user specification |
| E3 | 靜電放電特性 HBM | HBM | ANSI/ESDA/JEDEC JS-001 |
| E4 | 靜電放電特性 CDM | CDM | AEC-Q101-005 |
| G 組 空腔封裝完整性測(cè)試 | |||
| G1 | 恒定加速度 | CA | MIL-STD-750-2Method 2006 |
| G2 | 變頻振動(dòng) | VVF | JEDEC JESD22-B103 Condition 1 |
| G3 | 機(jī)械沖擊 | MS | JEDEC JESD22-B110 |
| G4 | 密封性 | HER | JEDEC JESD22-A109 |
通過(guò)執(zhí)行過(guò)大量的AEC-Q102測(cè)試案例，優(yōu)科實(shí)驗(yàn)室技術(shù)團(tuán)隊(duì)，積累了豐富的AEC-Q102認(rèn)證試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn)，可以提供更專業(yè)、更可靠的LED光源AEC-Q102認(rèn)證測(cè)試服務(wù)，同時(shí)提供LED、光電二極管、晶體管、激光元件的環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。
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